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記錄系統由放大器，脈沖高度分析器和記錄、顯示裝置組成。其中脈沖高度分析器是關(guān)鍵性部件。由檢測器將光信號轉換成電脈沖信號輸送到前置放大器，經(jīng)前置放大器預放大后再送至主放大器，經(jīng)放大后送入脈沖高度分析器，再顯示記錄或送入計算機。主放大器輸出的脈沖信號包括待測元素脈沖信號、噪聲及高次線(xiàn)脈沖信號。每一個(gè)電脈沖的幅度正比于X射線(xiàn)光子能量，但是實(shí)際上由每個(gè)入射光子所引起的離子對數并不是一個(gè)定值，而是在平均值上下波動(dòng)，因而電脈沖的幅度分布也隨之變動(dòng)。由于晶體衍射分光，同一元素不同級次的熒光...

X射線(xiàn)檢測器又稱(chēng)探測器，是種能量轉換器，能對光子進(jìn)行計數。在與光電子作用時(shí)，它可以?xún)Υ婷看稳肷涔庾拥娜磕芰?。光子流越弱，檢測器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射線(xiàn)檢測器有氣體能量轉化器、半導體能量轉換器和閃爍計數器。一、氣體能量轉化器氣體能量轉化器也稱(chēng)充氣型正比計數器（gasproportioncounter，PC），分為氣流型和封閉型兩種，氣流型適用于輕元素的檢測，而封閉型常用于高原子序數的元素，探測波長(cháng)較長(cháng)。以波長(cháng)色散譜儀為例，氣流型和封閉型充Xe氣的正比計數管常常串聯(lián)使用...

分光系統是波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀的重要部件，它由分光晶體及傳動(dòng)機構、限高光欄、準直鏡和衰減器等器件組成。其中主要的器件是晶體分光器，它的作用是通過(guò)晶體衍射把不同波長(cháng)的X射線(xiàn)分開(kāi)。一、分光晶體分光晶體是晶體分光系統的核心部件，為了獲得較好的分析效果，晶體的選擇是十分重要的。分光晶體相當于光學(xué)光譜儀中棱鏡和光柵，X射線(xiàn)區域之所以不能使用棱鏡或光柵作為的分光單元，是因為X射線(xiàn)的波長(cháng)短、能量大、穿透力強、幾乎不發(fā)生折射。晶體分光的原理是根據布拉格衍射定律2dsinθ=mλ，當波長(cháng)...

電鍍鍍層膜厚分析儀是X射線(xiàn)聚光系統與X射線(xiàn)源相結合，產(chǎn)生束斑高強度的X射線(xiàn)束。所以可以對以往由于X射線(xiàn)照射強度不足而導致無(wú)法得到理想精度的導線(xiàn)架、接插頭、柔性線(xiàn)路板等微小零件及薄膜進(jìn)行測量。同時(shí)，采用了高計數率、高分辨率的半導體檢測器（無(wú)需液氮），在測量鍍膜厚度的同時(shí)，對于限制的有害元素的分析測量也十分有效。電鍍鍍層膜厚分析儀產(chǎn)品的優(yōu)勢表現：1.鍍層檢測，至多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。2.平臺尺寸：樣品移動(dòng)距離可大。3.激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。4.可檢測固體、粉末...

為了使被測物質(zhì)產(chǎn)生特征熒光X射線(xiàn)（X光熒光），需要用能量較高的光子源來(lái)激發(fā)。光子源有X射線(xiàn)、低能量的γ射線(xiàn)以及高能量的加速電子或離子。對于一般的X射線(xiàn)熒光光譜儀，常用的激發(fā)方法有如下幾種：一、用放射性同位素源激發(fā)源激發(fā)是將少量的放射性同位素，如55Fe（鐵）、109Cd（鎘）等物質(zhì)固封在密封的留有小孔的鉛罐中，連續發(fā)射出低能γ射線(xiàn)，經(jīng)準直后照射到被測物質(zhì)上產(chǎn)生X熒光。同位素源發(fā)出的X射線(xiàn)強度是非常穩定的，但是X射線(xiàn)強度小，能力分布不可調。優(yōu)點(diǎn)：?jiǎn)紊院?、信噪比高、體積小、重量...