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產(chǎn)品分類(lèi)
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+涂鍍層厚度測量?jì)x X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理,我們設計出:膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應全球環(huán)保工藝準則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。
無(wú)損無(wú)接觸測量厚度測量?jì)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線(xiàn)法原理。和熒光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結晶信息(構造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫學(xué)透視照片。另外也用于機場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi).
單層/多層厚度測量?jì)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線(xiàn)法原理。和熒光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結晶信息(構造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫學(xué)透視照片。另外也用于機場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi).
光學(xué)無(wú)接觸膜厚厚度測量?jì)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線(xiàn)法原理。和熒光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結晶信息(構造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫學(xué)透視照片。另外也用于機場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi).