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描述:制造商鍍鈦層測厚儀,Thick800A是儀器銷(xiāo)量的鍍層測厚儀;儀器采用上照式結構,測試,軟件界面簡(jiǎn)潔,測試樣品用時(shí)40S,儀器Thick800A主要用于檢測金屬電鍍層厚度(如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……);在企業(yè)品質(zhì)檢測、來(lái)料管控方面,得到廣泛的應用。
廠(chǎng)商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2025-05-18訪(fǎng)問(wèn)量
924品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
hick800A是喬邦儀器銷(xiāo)量的鍍層測厚儀;儀器采用上照式結構,測試,軟件界面簡(jiǎn)潔,測試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。喬邦儀器Thick800A主要用于檢測金屬電鍍層厚度(如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……);在企業(yè)品質(zhì)檢測、來(lái)料管控方面,得到廣泛的應用。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為:GB/T6462-20052、X-ray法(X射線(xiàn)法)。適用標準為:GB/T16921-20053、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標準為:GB/T4955-2005
測量標準1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線(xiàn)光譜方法 2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by Fluorescence
部分產(chǎn)品
X射線(xiàn)熒光測厚儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,x光鍍層測厚儀, 國產(chǎn)鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀,國產(chǎn)X熒光鍍層測厚儀,x光鍍層測厚儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀價(jià)格,鍍層測厚儀, XRF鍍層測厚儀,國產(chǎn)電鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀,電鍍層測厚儀,x射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀, x熒光鍍層測厚儀價(jià)格,金屬鍍層測厚儀,X熒光電鍍層測厚儀,鍍層膜厚測試儀,無(wú)損金屬鍍層測厚儀,X光電鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀品牌,鍍層測厚儀,X射線(xiàn)金屬鍍層測厚儀,x射線(xiàn)電鍍層測厚儀,電鍍鍍層測厚儀,國產(chǎn)X射線(xiàn)鍍層測厚儀,xrf鍍層膜厚測試儀,X熒光鍍層膜厚儀,X射線(xiàn)鍍層膜厚儀, .
制造商性能特點(diǎn)
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
產(chǎn)品分類(lèi)
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